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德國(guó)EPK測(cè)厚儀ElektroPhysik測(cè)厚儀型號(hào)介紹
2016-10-24
德國(guó)馬爾粗糙度儀Marsurf M400優(yōu)勢(shì)信息
2025-09-04
FISCHER X射線測(cè)厚儀 X-RAY XDLM237信息
2026-02-27
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產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2023-11-11訪 問(wèn) 量：2558
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Minitest 2100測(cè)厚儀F1.5探頭
Coating thickness gauge MiniTest 2100
測(cè)量高精度和重現(xiàn)性
讀數(shù)的存儲(chǔ)統(tǒng)計(jì)功能
耐磨探頭用于多用途
德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
探頭型號(hào)：
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
| FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測(cè)頭， 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 |
| F05 0～500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
| F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 可用于較厚的覆層 |
| F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| F10 0～10mm,φ20mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
| F20 0～20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
| F50 0～50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 |
| N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 |
| N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
| N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
| N100 0～100mm,200mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
| CN02 10～200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
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