歡迎訪問(wèn)篤摯儀器（上海）有限公司網(wǎng)站，我們竭誠(chéng)為您提供合格產(chǎn)品和專業(yè)的服務(wù)！服務(wù)熱線：021-58951091
我們相信合格的產(chǎn)品是信譽(yù)的保證！
更新時(shí)間：2025-10-24 
瀏覽次數(shù)：391X 射線熒光法的精準(zhǔn)應(yīng)用
費(fèi)希爾 X 射線測(cè)厚儀基于X 射線熒光（XRF）原理實(shí)現(xiàn)無(wú)損測(cè)量，核心邏輯可概括為 "激發(fā) - 探測(cè) - 分析" 三步：
射線激發(fā)：設(shè)備內(nèi)置微焦點(diǎn) X 射線管（多采用鎢陽(yáng)極）發(fā)射初級(jí) X 射線，穿透被測(cè)材料表層；
熒光產(chǎn)生：材料原子吸收能量后釋放特征熒光射線，其能量與元素種類對(duì)應(yīng)，強(qiáng)度與厚度正相關(guān)；
信號(hào)解析：通過(guò)比例計(jì)數(shù)管、硅 PIN 二極管或硅漂移探測(cè)器（SDD）捕捉熒光信號(hào)，經(jīng)數(shù)字脈沖處理器（DPP+）轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，最終由軟件計(jì)算厚度值。
這一技術(shù)可實(shí)現(xiàn)0.01μm 級(jí)精度測(cè)量，且支持真空與空氣兩種測(cè)量環(huán)境，能適應(yīng)最高 400℃的樣品溫度。
掃碼添加微信
© 2026 篤摯儀器（上海）有限公司(www.olpzm.com) 版權(quán)所有 滬ICP備16027846號(hào)-5
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml
您的位置：