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更新時(shí)間：2025-05-01 
瀏覽次數(shù)：899（Surtronic DUO ）光潔度測(cè)試儀
（Surtronic DUO ）
泰勒霍普森粗糙度儀采用藍(lán)牙技術(shù)的（Surtronic DUO ）、表面粗糙度測(cè)試儀
泰勒霍普森（Taylor Hobson）表面測(cè)試儀、（Surtronic DUO ），只需輕按一下按鈕，即可測(cè)量多個(gè)粗糙度參數(shù)，并在大型液晶顯示屏上以數(shù)字和圖形格式顯示測(cè)量結(jié)果：
可選擇 9 種表面粗糙度參數(shù)（輪廓算術(shù)平均偏差 Ra、十點(diǎn)高度 Rz、輪廓最大高度 Rt、輪廓峰頂高度 Rp、輪廓谷深 Rv，以及輪廓偏斜度 Rsk、輪廓峰度 Rku、均方根偏差 Rq、最大輪廓高度 Rz1max）和 5 種未濾波參數(shù)
具備藍(lán)牙技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)顯示屏與測(cè)量單元之間的無(wú)線通信
使用重型可充電電池，配備迷你 USB 充電接口
采用橡膠模塑材質(zhì)，在車間環(huán)境中具有更強(qiáng)的耐用性
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